XMS是一款適用于工業(yè)自動(dòng)化的在線式X射線熒光分析儀，具有快速數(shù)據(jù)采集和分析能力，能夠幫助制造商優(yōu)化工藝流程和提供產(chǎn)品質(zhì)量。

能夠快速而準(zhǔn)確的完成元素定性/定量分析，適用于多種環(huán)境，包括合金分析、PMI材質(zhì)分析，礦石成分分析、土壤重金屬檢測(cè)、RoHS 2.0檢測(cè)，鍍層測(cè)厚、化肥和動(dòng)物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各行.....

更高精度、更多元素檢測(cè)范圍，可測(cè)到氟元素的科研級(jí)手持式XRF光譜儀

微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對(duì)不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。

M4 TORNADO PLUS 微區(qū)X射線熒光成像光譜儀是能夠檢測(cè)出C（6）-Am（95）間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀。

便攜式XRF分析儀適用于在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)外檢測(cè)固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),但是,當(dāng)需要對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)備時(shí);當(dāng)樣品為粉末,固體和液體等形態(tài),存放在容器中時(shí);當(dāng)需要較長(zhǎng)時(shí)間的檢測(cè).....

Dektak Pro是布魯克新發(fā)布的一款的探針式輪廓儀/臺(tái)階儀，基于第十一代Dektak?系統(tǒng)，具有4 ?重復(fù)性的優(yōu)異表現(xiàn)，并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng)

ContourX系列中的高效能白光干涉儀，配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)、查找表面功能、拼接及大范圍成像功能。

布魯克白光干涉儀，適用于研究和生產(chǎn)的自校準(zhǔn)、具備全自動(dòng)解決方案的三維光學(xué)輪廓系統(tǒng)

能夠?qū)崿F(xiàn)嚴(yán)苛的納米水平表面測(cè)量，提供更高的重復(fù)性和分辨率，不論是性能、易用性還是價(jià)格都更具有競(jìng)爭(zhēng)力的探針式輪廓儀

一款可容納高達(dá) 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規(guī)格晶圓和面板制造領(lǐng)域、QC（質(zhì)量控制）/QA（質(zhì)量保證）的探針式輪廓儀系統(tǒng)

原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺(tái)的原子力顯微鏡

布魯克光學(xué)輪廓儀特性：業(yè)界標(biāo)桿，大視場(chǎng)下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實(shí)現(xiàn)不同面型和織構(gòu)表面的表征；硬件的優(yōu)化設(shè)計(jì)進(jìn)一步的儀器抗噪聲能力、系統(tǒng)靈活性和測(cè)量穩(wěn)定性

FSM128系列設(shè)備，裝備有光學(xué)掃描系統(tǒng)。

FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評(píng)估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性

硅片表面形貌測(cè)量,材料表面形貌分析

FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）干涉測(cè)量技術(shù)。

PV200為光伏系統(tǒng)提供了一個(gè)測(cè)試及診斷解決方案

CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運(yùn)行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復(fù)位模式運(yùn)行。

布魯克AFM探針具有多種款式和型號(hào)，能夠滿足多種應(yīng)用領(lǐng)域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案。

承接成分分析、大面積元素分析成像、 材料表面形貌分析等檢測(cè)服務(wù)